AFM vs SEM
需要探索较小的世界，随着纳米技术，微生物学和电子产品等新技术的最新发展，人们一直在迅速发展。由于显微镜是提供较小物体的放大图像的工具，因此对开发不同的显微镜技术以增加分辨率进行了大量研究。尽管第一显微镜是一种光学溶液，其中使用透镜来放大图像，但当前的高分辨率显微镜遵循不同的方法。扫描电子显微镜（SEM）和原子力显微镜（AFM）基于两种此类方法。
原子力显微镜（AFM）
AFM使用尖端扫描样品的表面，并根据表面的性质上下移动。这个概念类似于盲人通过在整个表面上伸出手指来理解表面的方式。AFM Technology是由Gerd Binnig和Christoph Gerber于1986年推出的，自1989年以来就在市售。
尖端由钻石，硅和碳纳米管等材料制成，并附着在悬臂上。较小尖端较高成像的分辨率。目前的大多数AFM都具有纳米分辨率。不同类型的方法用于测量悬臂的位移。最常见的方法是使用反映悬臂的激光束，以便可以将反射光束的挠度用作悬臂位置的度量。
由于AFM使用使用机械探针感觉表面的方法，因此它能够通过探测所有表面来产生样品的3D图像。它还使用户可以使用尖端在样品表面上操纵原子或分子。
扫描电子显微镜（SEM）
SEM使用电子束代替光进行成像。它具有较大的景深，使用户能够观察样品表面的更详细的图像。随着电磁系统的使用，AFM也具有更大的控制量。
在SEM中，电子梁是使用电子枪产生的，并沿着显微镜穿过垂直路径，该路径放在真空中。带有镜头的电场和磁场将电子束聚焦于样品。一旦电子光束击中样品表面，将发射电子和X射线。检测并分析了这些排放，以便将材料图像放在屏幕上。SEM的分辨率为纳米尺度，取决于梁的能量。
由于SEM在真空中运行并在成像过程中使用电子，因此在样品制备中应遵循特殊的过程。
自1935年Max Knoll首次观察以来，SEM的历史很长。
AFM和SEM之间的差异 1. SEM使用电子束进行成像，其中AFM使用使用机械探测的感觉的方法。 2. AFM可以提供表面的3维信息，尽管SEM仅给出2维图像。 3.与SEM中，由于真空环境和电子束，对AFM中的样品没有特殊处理。 4.与AFM相比，SEM可以分析更大的表面积。 5. SEM比AFM更快地执行扫描。 6.尽管SEM仅可用于成像，但除成像外，AFM可用于操纵分子。 7.与最近（1986年）引入的AFM相比，1935年引入的SEM的历史更长。 |
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